Erkennt Unterschiede und Defekte, die mit sichtbarem Licht bei langen Wellenlängen nicht erkannt werden können
Es ist möglich, Platinenmuster und Federteile innerhalb des transparenten Spektrums erkennen Es ist auch möglich,
das Innere von Kunststoffteilen auf Fremdkörper zu prüfen
Sichtbares Licht
SWIR
Das aufgedruckte Blumenmuster ist nicht mehr sichtbar und im
Stoff selbst sind Kratzer und Einstichspuren zu erkennen
Sichtbares Licht
SWIR
Die Buchstaben auf der Unterseite des Siliziumwafers sind durch den Siliziumwafer hindurch zu erkennen,
was dazu verwendet werden kann, Defekte und Komponenten auf der Unterseite des Wafers zu erkennen
Sichtbares Licht
SWIR
| Modell | Brennweite | ∞ F-Zahl |
Aufnahmebereich |
TV Verzeichnung |
Bildwinkel |
Durchmesser der Filterschraube |
Maximale Kameragröße |
Anschluss |
Ansicht von außen |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| HS0619V-SW | 6mm | 1.9 |
100mm 〜 ∞ |
0.14％ |
94.1°×77.5° |
– | 1” |
C |
 |
| HS0818V-SW | 8mm | 1.8 |
100mm 〜 ∞ |
-0.52％ |
77°×61° |
M58 P=0.75 |
1” |
C |  |
| HS1214V-SW | 12.5mm | 1.4 | 300mm 〜 ∞ | -1.06％ |
54.2°×41.5° |
M40.5 P=0.5 | 1” | C |  |
| HS1614V-SW | 16mm | 1.4 | 300mm 〜 ∞ |
-0.97% |
43.6°x 33.1° | M40.5 P=0.5 | 1” | C |  |
| HS2514V-SW | 25mm | 1.4 | 300mm 〜 ∞ |
-0.01% |
28.1°x 21.3° |
M40.5 P=0.5 | 1” | C |  |
| HS3516V-SW | 35mm | 1.6 | 200mm 〜 ∞ | 0.09% | 21.5°x 16.3° | M40.5 P=0.5 | 1.1” | C |  |
| HS5016V-SW | 50mm | 1.6 | 300mm 〜 ∞ | 0.10% | 15.8°x 11.9° | M40.5 P=0.5 | 1.1” | C |  |
| HS7520V-SW | 75mm | 2.0 | 440mm 〜 ∞ | 0.05% | 10.8°x 8.1° | M40.5 P=0.5 | 1.1” | C |  |
| HS10028V-SW | 100mm | 2.8 | 620mm 〜 ∞ | 0.09% | 8.2°x 6.1° | M46.5 P=0.75 | 1.1” | C |  |
○ Die aufgeführten Werte sind Konstruktionswerte. ○ TV Verzeichnung geht vom Punkt der Aufnahme im absoluten Nahbereich aus. ○ Der Wert des Bildwinkels basiert auf der Verwendung der maximal kompatiblen Kamera.
