長波長にて可視光では捉えられない差異や欠陥を検出
透過内部の基板パターン・バネ部品の検出が可能 プラスチック部品内部の異物などの確認も出来る
可視光
SWIR
印刷された花柄が見えなくなり、 生地そのものの傷・凹みを検出可能
シリコンウェハーを透過、下面においた文字が認識、 ウェハー裏面の欠陥や部品認識に活用出来る
∞FNO
撮影範囲
TVディストーション
画角(H×V)
フィルターネジ径
最大カメラサイズ
マウント
6mm
1.9
100mm – ∞
0.14%
–
8mm
1.8
-0.52%
12.5mm
1.4
300mm – ∞
16mm
-0.97%
M40.5 P=0.5
25mm
28.1°x 21.3°
HS3516V-SW
35mm
1.6
HS5016V-SW
50mm
15.8°x 11.9°
HS7520V-SW
75mm
0.05%
HS10028V-SW
2.8
8.2°x 6.1°
M46 P=0.75
○記載数値は設計値です。 ○TVディストーションは最至近撮影時のものです。 ○画角は最大適合カメラ使用時の数値です。
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